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EMC試驗場地確認(rèn)測試技術(shù)研討會在上海舉辦
作者:  日期:2013-04-23  瀏覽次數(shù):1754次  來源:
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4月19日,由全國無線電干擾標(biāo)準(zhǔn)化委員會舉辦的“EMC試驗場地確認(rèn)測試技術(shù)研討會”在上海港鴻酒店順利召開,研討會主要針對開闊場,半電波暗室,全電波暗室的測試技術(shù)即場地歸一化衰減(NSA)和場地電壓駐波比(VSWR)測試展開交流討論。目的保證測試場地的精準(zhǔn)度和穩(wěn)定性,滿足測試結(jié)果的一致性,可比性。

1.校驗場地時,全用不同類型的天線對場地校驗結(jié)果的影響。主要是實(shí)際使用的電線并不是理想型的天線,發(fā)射并不是全向,造成測試結(jié)構(gòu)出現(xiàn)偏差。

2.校驗場地結(jié)果出現(xiàn)偏離,不符合標(biāo)準(zhǔn)要求,需要考慮的問題方向和原因。主要是電磁波的反射路徑(采取偏置法)。

3.CISPR 16和ANSI C63.5針對場地測試的差異及其測試方法(FAR方法)參考試驗室法。

來自全國EMC各個領(lǐng)域的專家、學(xué)者達(dá)100多人參加了此次會議,通過此次研討會對于國內(nèi)電波暗室建造驗收,提供更新的標(biāo)準(zhǔn)支持。

 

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