蘇州泰思特電子科技有限公司主起草的國家標準GB/T 44635-2024《靜電放電敏感度試驗 傳輸線脈沖 器件級》，于2024年9月29日正式發(fā)布。該標準定義了一種傳輸線脈沖（TLP）試驗方法，用于評估被測半導體器件的電壓電流響應，并考量靜電放電（ESD）人體模型（HBM）防護的設計參數(shù)。
◆◆ 助力科技創(chuàng)新 ◆◆
二十年的深耕細作，我司在技術領域取得了眾多突破性的成果，同時，公司積極響應國家科技發(fā)展戰(zhàn)略，投身于多項國家重大科研項目，并30多次參與標準起草和驗證工作。在本次國標起草過程中，蘇州泰思特電子充分利用其在靜電放電敏感度測試的技術領域的歷史沉淀和經(jīng)驗積累，GB/T 44635-2024《靜電放電敏感度試驗 傳輸線脈沖 器件級》的起草提供了重要的技術支持。
◆ TLP傳輸線脈沖發(fā)生器EDT 50 ◆
TLP傳輸線脈沖發(fā)生器EDT 50用于模擬靜電放電脈沖；
測試系統(tǒng)能夠提供脈沖式IV曲線，使用戶能夠表征器件在納秒級的瞬態(tài)響應；
系統(tǒng)還具有先進的器件失效自動化檢測方法，例如漏電流測試，靜態(tài)IV曲線；
可測的DUT包括靜電防護器件，半導體，電路模塊，傳感器等；
配置最靈活的TLP IV曲線脈沖測試分析系統(tǒng)；
超快測試速度，程序并行處理；
目前測試版本有 25 A和50 A模塊；
自動化故障檢測方法包括：靜態(tài)IV, 漏電流；
軟件控制的脈沖注入: 單次, 連續(xù), IV-曲線表征；
上升沿選項：500 ps 至 10 ns *(取決于模塊)；
脈沖寬度選項：5 ns 至 1000 ns *(取決于模塊)。
可配用SMUKeithley 24xx/26xx系列 SMU
